En el marco del Día Internacional de la Metrología, el rector de la Universidad Politécnica de Santa Rosa Jáuregui, Christian Reyes Méndez, invitó a la comunidad académica y al público interesado a participar en el XI Coloquio de Metrología, que se realizará los días 18 y 19 de mayo.
El evento tiene como objetivo promover la ciencia de la medición como una herramienta clave para la calidad, la innovación y la capacitación profesional, además de fortalecer el vínculo entre la academia y el desarrollo tecnológico.
Las actividades se llevarán a cabo en el aula virtual de la institución, en un horario de 09:00 a 16:00 horas, con conferencias, talleres y paneles especializados.
Entre los temas que se abordarán destacan la metrología en políticas públicas, su relación con la inteligencia artificial, la infraestructura de la calidad, innovación en medición, experiencias en laboratorios, así como los retos científicos relacionados con la gravedad y el desarrollo tecnológico.
La universidad destacó que este espacio busca acercar el conocimiento científico a estudiantes y especialistas, impulsando la formación en áreas estratégicas para la industria y la investigación.
